CIM-3300P弱磁材料磁導率測量裝置

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        CIM-3300P弱磁材料磁導率測量裝置依據《GB/T 35690-2017 弱磁材料相對磁導率的測量方法》和《ASTM A342/342M-14 Standard Test Methods for Permeability of Feebly Magnetic Materials》設計,可測量弱磁材料(如奧氏體不銹鋼)相對磁導率μr在1.001-4.000之間的棒狀或方形等弱磁樣品的相對磁導率。系統采用計算機控制,可自動完成測試并生成測試報告。

 

測量項目
測量奧氏體不銹鋼等弱磁材料的相對磁導率μr;
測量范圍:1.001-4.000;
試樣形狀:可測量條狀、棒狀和片狀試樣;
試樣要求:長徑比>20:1;



技術參數

使用環境
參數技術指標
輸入電源單相220V,50Hz
使用環境環境溫度:23±5℃;環境濕度:30~75%RH
外磁場干擾應絕對避免
熱平衡時間10分鐘
TPS-510D軟磁直流測試電源
參數技術指標
最大勵磁電壓50V
最大勵磁電流10A
輸出保護過壓、過流、短路保護
LZ-840磁通計
參數技術指標
量程0.4、4、40、400 mWb
測量精度0.25%(滿量程)
零點漂移小于1μWb/60秒
漂移調整方式自動、手動
漂移抑制智能抑制
LXG-0630螺線管
參數技術指標
最大電流10A
最大磁場40000A/m@10A(更高磁場需定制)
均勻區直徑*長度 Φ40mm*200,均勻度優于0.5%
PC-6616數據采集卡
參數技術指標
A/D D/A轉換16Bit,8通道差分輸入
轉換精度0.01%(滿量程)